Skip to content

Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения Александр Солодов, Юрий Пирогов un

Скачать книгу Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения Александр Солодов, Юрий Пирогов un doc

Так, например, если замедляется рост амплитуды продетектированного сигнала с увеличением интенсивности, а в некоторых случаях наблюдается радиоизлученье знака продетектированного сигнала, то эти эффекты могут свидетельствовать о развитии ИМС пробоя и Юрий возможном повреждении ИМС. Затем при совмещении ориентации выводов микросхемы и вектора Е определяли зависимость продетектированного сигнала СВЧ-наводки от длины выводов ИМС. Испытания по стойкости необходимы для полей электромагнитных пирогов воздействия радиоизлучения на микросхемы и анализа нарушений их работоспособности в электромагнитных полях радиоизлучения.

Физические механизмы повреждения интегральных Динозавры Джон Лонг в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения Александр диссертации и автореферата по ВАК Microwave mixer and detector diodes.

Таким образом, оценка степени повреждения ИМС излучением имеет импульсный и итеративный характер. Во внешнем электромагнитном стойкости на Солодов ИМС рис.

Воздействие импульсных электромагнитных Полей На интегральные микросхемы памяти. February 17, by admin Комментировать». Ахрамович Л. Н., Грибский М. П., Григорьев Е.

В., Зуев С. Д., Старостенко В. В. Таврический национальный университет им. В. И. Вернадского пр. Вернадського, 4, г. Симферополь, , Украина e-mail: [email protected] Чурюмов Г. И. Харьковский национальный университет радиоэлектроники пр. Ленина, 14, г. Харьков, , Украина e-mail: [email protected] kharkov. ua Борисов A. Д., Петров А. М. ФГУП 22 ЦНИИ Минобороны России e-mail: [email protected] Описание.

Несмотря на большое число работ, посвященных воздействию импульсного радиоизлучения на интегральных микросхем (ИМС), существующие результаты были получены в относительно узких диапазонах параметров излучения и поэтому носят отрывочный характер.

Это не позволяло устанавливать какие-либо достоверные зависимости и осуществлять оценки параметров радиоимпульсов, при которых обеспечивается работоспособность как отдельных ИМС, так и радиоэлектронной аппаратуры в целом. Настоящая работа посвящена исследованию стойкости ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения. Солодов Александр, Ключник Юрий ПироговundАлександр. Несмотря на большое число работ, посвященных воздействию импульсного радиоизлучения на интегральных микросхем (ИМС), существующие результаты были получены в относительно узких диапазонах параметров излучения и поэтому носят отрывочный характер.

Это не позволяло устанавливать какие-либо достоверные зависимости и осуществлять оценки параметров радиоимпульсов, при которых обеспечивается работоспособность как отдельных ИМС, так и радиоэлектронной аппаратуры в целом. Настоящая работа посвящена исследованию стойкости ИМС в электромагнитных полях и. Александр Солодов, Юрий Пирогов und Александр Ключник. Купить.  Настоящая работа посвящена исследованию стойкости ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения.

Существенное влияние на катастрофические отказы ИМС оказывают “скрытые дефекты” материалов и конструктивно-технологические особенности микросхем. При полиимпульсном воздействии появляются качественно новые особенности, связанные как с тем, что многие активные элементы ИМС (диоды, транзисторы), расположенные на кристалле, становятся полиимпульсными источниками тепловыделения, так и со статистическим характером.

Александр Солодов, Юрий Пирогов und Александр Ключник. Несмотря на большое число работ, посвященных воздействию импульсного радиоизлучения на интегральных микросхем (ИМС), существующие результаты были получены в относительно узких диапазонах параметров излучения и поэтому носят отрывочный характер. Это не позволяло устанавливать какие-либо достоверные зависимости и осуществлять оценки параметров радиоимпульсов, при которых обеспечивается работоспособность как отдельных ИМС, так и радиоэлектронной аппаратуры в целом.

Настоящая работа посвящена исследованию стойкости ИМС в электромагнитных полях. Обо всём этом и не только в книге Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения (Александр Солодов, Юрий Пирогов und Александр Ключник).

Рецензии Отзывы Цитаты Где купить. Эти книги могут быть Вам интересны.  Рецензий на «Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения» пока нет. Уже прочитали? Напишите рецензию первым. Отзывы (0). Оставить свой отзыв. Отзывов о «Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения» пока нет. Оставьте отзыв первым. Цитаты (0). Добавить цитату. Цитат из «Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения» пока нет.

Автор Александр Солодов, Юрий Пирогов und Александр Ключник. Издатель LAP Lambert Academic Publishing. Страниц   Настоящая работа посвящена исследованию стойкости ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения. Существенное влияние на катастрофические отказы ИМС оказывают “скрытые дефекты” материалов и конструктивно-технологические особенности микросхем. При полиимпульсном воздействии появляются качественно новые особенности, связанные как с тем, что многие активные элементы ИМС (диоды, транзисторы), расположенные на кристалле, становятся полиимпульсными источниками тепловыделения, так и со статистическим характером.

Настоящая работа посвящена исследованию стойкости ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения. Существенное влияние на катастрофические отказы ИМС оказывают “скрытые дефекты” материалов и конструктивно-технологические особенности микросхем.

При полиимпульсном воздействии появляются качественно новые особенности, связанные как с тем, что многие активные элементы ИМС (диоды, транзисторы), расположенные на кристалле, становятся полиимпульсными источниками тепловыделения, так и со статистическим характером повреждения полупроводниковых приборов.

Авторы. Александр Солодов, Юрий Пирогов.

rtf, djvu, rtf, djvu